总结一下IEEE1149.1标准的背景及其当前的使用情况，200字以内，第2人称。
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你提到的IEEE 1149.1标准，又称JTAG（Joint Test Action Group），最初是为集成电路的边界扫描测试（Boundary Scan Testing）而开发的。它允许在复杂电路板或系统中，通过测试访问端口（Test Access Port, TAP）对芯片进行调试和测试，而无需直接接触芯片引脚。尽管最初主要用于测试和验证，JTAG在现代电子设计中已扩展到多种用途，如调试嵌入式系统、配置FPGA和验证电路板。它已成为电子设计和制造流程中不可或缺的一部分，广泛应用于从消费电子到航空航天等各个领域。
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